مباني پايه اي نانومترولوژي مهندسي
نويسنده (ها) : Richard Leach
شماره شابک: 0080964540
تعداد صفحات: 352
تاريخ انتشار: 2009
انتشارات: William Andrew
قيمت: 149 دلار
مباني مترولوژي مهندسي که در مقياس نانو و ميکرو قابل استفاده است، براي دانشمندان و مهندسيني که در تجاريسازي فناوري نانو و روشهاي اندازهگيري کار ميکنند و نياز به دقت در مقياس نانو دارند، بسيار ضروري است.
ايجاد استانداردهاي مشترک و عمومي، يکي از پيش شرطهاي استفاده از پتانسيلهاي تجاري فناوريهاي نانو و ميکرو (MNT) است. وجود اين استانداردها، امکان تبادل قطعات، بستهبنديها و قوانين طراحي بين شرکت ها و کارخانجات را فراهم ميکند. استانداردسازي موثر ميکرو و نانو ما را قادر ميسازد تا بتوانيم براي پيچ و مهره ها و آجرهاي ساختماني در مقياس ماکرو، معادلهايي در مقياس ميکرو و نانو ايجاد کنيم.
در حال حاضر تلاش فراواني براي استانداردسازي فعاليتهاي ميکرو و نانو انجام مي شود ، که ايجاد کميتههاي ISO، IEO و کميتههاي ملي و منطقهاي از نشانه هاي آن است.
در اين کتاب پروفسور Richard Leach از آزمايشگاه ملي فيزيک انگلستان (NPL)، و يکي از فعالان حوزه ي استانداردسازي نانو، مباني مترولوژي مهندسي را به مقياسهاي ميکر و نانو بسط داده است؛ البته با تمرکز بر روي مترولوژي ابعاد و جرم.
مباني و روشهاي ارائه شده در اين کتاب، منبع ارزشمندي براي دانشمندان و مهندساني است که در زمينه تجاريسازي فناوري نانو و روشهاي اندازهگيري کار ميکنند.
مطالب اساسي ارائه شده در اين کتاب عبارتند از:
• ادبيات ("terminology") مترولوژي و مطالب بسيار مهم در زمينه اندازهگيريهاي غيرمطمئن
• دستگاهوري ("Instrumentation") به همراه مقدمهاي بر ليزر
• اندازهگيري طول با استفاده از اينترفرومتري ("interferometry") نوري
• حسگرهاي تشخيص و اندازهگيري جابهجايي و تغيير مکان
• اندازهگيري بافت سطحي، ابزار اندازهگيري سوزني، نوري، پروب روبشي، کاليبراسيون، مشخصهيابي پروفايل و مساحت
• مترولوژي معادل ("Coordinate metrology")
• مترولوژي نيرو و جرم
فهرست مطالب
1- مقدمهاي بر مترولوژي فناوري نانو و ميکرو
2- معرفي چند اصل اندازهگيري
3- ابزارهاي اندازهگيري دقيق: اصول طراحي
4- امکان انددازه گيري طول با استفاده از اينترفرومتري
5- اندازهگيري تغيير مکان
6- ابزارهاي اندازهگيري توپوگرافي سطح
7- ميکروسکوپ پروب روبشي و ميکروسکوپ پرتو ذرات
8- مشخصهيابي توپوگرافي سطح
9- مترولوژي معادل
10- اندازهگيري جرم و نيرو
اين خبر در ماهنامه شماره 148 به چاپ رسيده است
ستاد توسعه فناوري نانو
نويسنده (ها) : Richard Leach
شماره شابک: 0080964540
تعداد صفحات: 352
تاريخ انتشار: 2009
انتشارات: William Andrew
قيمت: 149 دلار
مباني مترولوژي مهندسي که در مقياس نانو و ميکرو قابل استفاده است، براي دانشمندان و مهندسيني که در تجاريسازي فناوري نانو و روشهاي اندازهگيري کار ميکنند و نياز به دقت در مقياس نانو دارند، بسيار ضروري است.
ايجاد استانداردهاي مشترک و عمومي، يکي از پيش شرطهاي استفاده از پتانسيلهاي تجاري فناوريهاي نانو و ميکرو (MNT) است. وجود اين استانداردها، امکان تبادل قطعات، بستهبنديها و قوانين طراحي بين شرکت ها و کارخانجات را فراهم ميکند. استانداردسازي موثر ميکرو و نانو ما را قادر ميسازد تا بتوانيم براي پيچ و مهره ها و آجرهاي ساختماني در مقياس ماکرو، معادلهايي در مقياس ميکرو و نانو ايجاد کنيم.
در حال حاضر تلاش فراواني براي استانداردسازي فعاليتهاي ميکرو و نانو انجام مي شود ، که ايجاد کميتههاي ISO، IEO و کميتههاي ملي و منطقهاي از نشانه هاي آن است.
در اين کتاب پروفسور Richard Leach از آزمايشگاه ملي فيزيک انگلستان (NPL)، و يکي از فعالان حوزه ي استانداردسازي نانو، مباني مترولوژي مهندسي را به مقياسهاي ميکر و نانو بسط داده است؛ البته با تمرکز بر روي مترولوژي ابعاد و جرم.
مباني و روشهاي ارائه شده در اين کتاب، منبع ارزشمندي براي دانشمندان و مهندساني است که در زمينه تجاريسازي فناوري نانو و روشهاي اندازهگيري کار ميکنند.
مطالب اساسي ارائه شده در اين کتاب عبارتند از:
• ادبيات ("terminology") مترولوژي و مطالب بسيار مهم در زمينه اندازهگيريهاي غيرمطمئن
• دستگاهوري ("Instrumentation") به همراه مقدمهاي بر ليزر
• اندازهگيري طول با استفاده از اينترفرومتري ("interferometry") نوري
• حسگرهاي تشخيص و اندازهگيري جابهجايي و تغيير مکان
• اندازهگيري بافت سطحي، ابزار اندازهگيري سوزني، نوري، پروب روبشي، کاليبراسيون، مشخصهيابي پروفايل و مساحت
• مترولوژي معادل ("Coordinate metrology")
• مترولوژي نيرو و جرم
فهرست مطالب
1- مقدمهاي بر مترولوژي فناوري نانو و ميکرو
2- معرفي چند اصل اندازهگيري
3- ابزارهاي اندازهگيري دقيق: اصول طراحي
4- امکان انددازه گيري طول با استفاده از اينترفرومتري
5- اندازهگيري تغيير مکان
6- ابزارهاي اندازهگيري توپوگرافي سطح
7- ميکروسکوپ پروب روبشي و ميکروسکوپ پرتو ذرات
8- مشخصهيابي توپوگرافي سطح
9- مترولوژي معادل
10- اندازهگيري جرم و نيرو
اين خبر در ماهنامه شماره 148 به چاپ رسيده است
ستاد توسعه فناوري نانو